XSE系列METTLER TOLEDO梅特勒-托利多分析天平XSE204 深圳廣州惠州東莞佛山維修服務上門點對點售后修理復原稱重

產(chǎn)品名稱 ：梅特勒分析天平XSE204 產(chǎn)品品牌 ：梅特勒XSE系列 產(chǎn)品型號 ：XSE204  產(chǎn)品規(guī)格：220g/0.1mg 產(chǎn)品價格：

XSE204梅特勒電子分析天平特點：

StatusLight? – 天平就緒

StatusLight 通過顏色直觀地指明天平的狀態(tài)。綠色表示就緒，黃色表示警告，紅色表示錯誤。清晰顯示的燈光表明天平是否已準備好開始執(zhí)行稱量任務。

消除電荷—樣品無憂

一體化去靜電裝置固定到天平側(cè)面，緩慢高效地去除靜電荷，而不會導致稱量室內(nèi)干擾。結(jié)果更加準確，并可避免交叉污染。

RFID 解決方案

Smart Tag RFID 標簽可實現(xiàn)滴定樣品信息安全地從天平傳輸至滴定儀。SmartScan?在帶有標記的移液器上檢查測試和校準日期。內(nèi)置的應用程序向?qū)⒅笇瓿梢埔浩鳈z查過程。

XSE 分析天平非常努力工作

XSE 分析天平提供卓越的稱量性能和品質(zhì)保證以及符合人體工程學設計，是各種工作場所完美可靠的解決方案。

創(chuàng)新的狀態(tài)指示燈 (StatusLight) 可免除您在稱量方面的擔憂。清晰可見的綠色指示燈讓您知道何時開啟安全，所有的測試都始終保持最新，天平水平且功能正常。

XSE 天平配備各種選件和多個連接選項，適用于不同的稱量應用。

瑞士設計與制造，卓越的品質(zhì)值得您信賴。

LabX – 稱量過程盡在掌握

LabX 實驗室軟件提供關(guān)于天平觸摸屏的靈活的SOP 用戶向?qū)АＷ詣訑?shù)據(jù)處理、計算和生成報告，避免抄寫誤差并確保完全可追溯性。

XSE204梅特勒電子分析天平產(chǎn)品特性

精確的結(jié)果

高分辨率技術(shù)

內(nèi)部校正和靈敏度測試

加載 5% 時的重復性，10 μg

高效的操作

彩色觸摸屏

采用 11 種語言的用戶界面

易巧稱量件 (ErgoClip) 用于直接加樣

易于清潔

懸掛式網(wǎng)格秤盤 (SmartGrid)

動態(tài)圖形顯示 (SmartTrac) 指導的加樣至目標

稱量保證

圖形化水平控制系統(tǒng)和分級別警告最小稱量值 (MinWeigh) 保護測試管理器FACT 和 GWP 歷史與用戶及密碼保護

狀態(tài)指示燈 (StatusLight)

無縫過程

LabX 就緒

RFID 通信就緒

一體化去靜電裝置就緒

內(nèi)置 RS232 接口

第 2 接口選件插槽

XSE204 梅特勒電子分析天平選配件

去靜電裝置

一體化去靜電裝置可中和樣品和容器上的靜電荷，并且結(jié)構(gòu)緊湊（內(nèi)置在天平內(nèi)部）。

易巧稱量組件 (ErgoClips)直接加樣至您的容器中。ErgoClips 在您的天平上固定一系列不同外形的容器。

Smart Tag RFID 標簽

從您的天平通過滴定杯安全地傳輸?shù)味悠沸畔ⅰ?/span>

打印機

堅固耐用的 P-50 系列實驗室打印機在紙上進行具有存檔質(zhì)量的打印輸出和連續(xù)剝離標簽。

EasyScan?

在帶有射頻識別 (RFID) 標記的移液器上檢查測試和校準日期。當通過天平應用進行測試時，記錄新的測試日期。

XSE104 梅特勒電子分析天平技術(shù)參數(shù)：

產(chǎn)品品牌:

德國賽多利斯（Sartorius） 瑞士梅特勒（Mettler) 上海卓精 日本新光(Sinko/Vibra) 日本島津（Shimadzu） 美國西特(Setra） 美國奧豪斯（Ohaus） 成都普瑞遜（Pris） 臺灣英展 山東蓬萊 瑞士普利賽斯（Precisa） 日本AND（And） 百利達（TANITA) 神宇龍騰（SYLT) 天平打印機LP-50

類別:

天平打印機 工業(yè)天平 電子天平 電子稱 實驗室儀器 黃金珠寶天平 比重天平 水分測定儀 油漆秤 防水，防腐電子秤 防爆、防塵電子秤 電子吊秤 電子地磅 叉車秤 砝碼 其他

	產(chǎn)品名稱	型號	產(chǎn)品品牌	產(chǎn)品參數(shù)
	梅特勒分析天平XSE204	XSE204	梅特勒XSE系列	稱量： 220g  精度： 0.1mg 秤盤尺寸：  78*73  mm 校正方式：全自動內(nèi)部校正
	梅特勒分析天平XSE104	XSEXSE104	梅特勒XSE系列	稱量： 120g  精度： 0.1mg 秤盤尺寸：  78*73  mm 校正方式：全自動內(nèi)部校正
	梅特勒分析天平XSE105DU	XSE105DU	梅特勒XSE系列	稱量：41g  / 120g  精度： 0.01mg/0.1mg 秤盤尺寸：  78*73  mm 校正方式：全自動內(nèi)部校正
	梅特勒分析天平XSE205DU	XSE205DU	梅特勒XSE系列	稱量：81g  / 220g  精度： 0.01mg/0.1mg 秤盤尺寸：  78*73  mm 校正方式：全自動內(nèi)部校正

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